دسته بندی اصلی
آموزش پژوهش
ورود و ثبت نام
شاید تاکنون پایداری تجهیزات الکترونیکی و مدارات مجتمع (IC) در فصول مختلف سال و شرایط دمایی مختلف برایتان جالب بوده است. شاید تعجب کرده باشید که چطور تلفن همراه شما در تابستان، زمستان و در گرما، سرما بی وقفه در حال خدمت رسانی به شماست. شاید برایتان سوال پیش آمده باشد که چطور تلفن همراه شما تا آخرین درصد باطری خود (تا آخرین قطره خونش) بی کم و کاست برای شما کار می کند. پاسخ تمامی این سوالات مربوط به وجود مداراتی در داخل تراشه تلفن همراه شماست که با نام مدارات مرجع شکاف باند (Bandgap Refrences) شناخته می شوند. مدارات مرجع شکاف باند، مداراتی هستند ولتاژ یا جریان لازم برای بایاس سایر مدارات موجود در یک تراشه را تامین می کنند. این مدارات بسته به کیفیت طراحی خود می توانند با قدرت از تغییر ولتاژ/جریان بایاس مدارات دیگر در برابر تغییرات دمایی و تغییرات ولتاژ تغذیه، نویز و غیره مقاومت کنند.
در سال های اخیر اقبال به ارائه مقالات پژوهشی در زمینه مدارات مرجع شکاف باند (Bandgap References) دارای اقبال زیادی بوده است . کما اینکه در ژورنال های متعدد خارجی از Elsevier گرفته تا ژورنال های IEEE بخشی از مقالات به طور مستقیم و غیر مستقیم به استفاده از مدارات مرجع شکاف باند مرتبط می باشد. ارائه نوآوری در جهت بهبود پارامتر هایی چون TC (مقاومت مدار مرجع شکاف باند در برابر تغییرات دمایی) ، LS (مقاومت مدار در برابر تغییرات ولتاژ تغذیه) و PSRR (نرخ رد نویز منبع تغذیه) بسیار شدنی است. با کسب دانش لازم در زمینه مدارات مرجع شکاف باند و مطالعه و بررسی مقالات مرتبط به راحتی می توانید در زمینه اقدام به تولید دانش و نشر مقالات عملی در ژورنال های ISI و کنفرانس های معتبر کنید.
این دوره به عنوان یک تجربه جذاب و کاربردی در دنیای مدارات مجتمع (آیسی) طراحی شده است. در این دوره مخاطبین محترم ابتدا با ماهیت علمی مدارات مرجع شکاف باند آشنا می شوند و جزئیات تئوری آن برایشان به صورت روان و با مثال های متعدد آموزش داده می شود. سپس چند مقاله کلیدی در زمینه مدار مرجع شکاف باند مورد بررسی و ارزیابی دقیق قرار می گیرد. جزئیات فنی هر مقاله بررسی می شود. جنبه های تئوری هر مقاله توضیح داده می شود. حتی با توجه به اینکه مدرس این دوره، داور ژورنال Elsevier می باشد، ایرادات علمی، فنی و نگارشی هر مقاله نیز بیان می شود. در پایان مختصری در خصوص جزئیات مرتبط با نحوه نگارش مقاله در زمینه علمی مدار مرجع شکاف باند بیان می شود.
مهندس محمد مهدی ولی نژاد، دانشجوی دکتری تخصصی مهندسی الکترونیک، یکی از پژوهشگران فعال در زمینه ارائه مقالات علمی در خصوص مدارات مرجع شکاف باند می باشند. ایشان دارای چندین مقاله در زمینه علمی مدارات مرجع شکاف باند هستند. تعدادی از این مقالات دارای تراشه (ساخته شده) هستند. همچنین مقالات ایشان دارای ارجاعات متعددی می باشد. جهت مشاهده فهرست مقالات ایشان در صفحه گوگل اسکولار مهندس محمد مهدی ولی نژاد اینجا را کلیک کنید.
گواهینامه حضور در دوره از سوی شاخه IEEE BZTE (شاخه دانشجویی دانشکده فنی بوئین زهرا زیر مجموعه دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره)) به زبان انگلیسی و به صورت بین المللی صادر می شود. کلیه شرکت کنندگان علاقه مند به دریافت گواهینامه دوره، لازم است پس از مشاهده دقیق ویدئو جلسات در آزمون گواهینامه شرکت کنند، در صورت کسب نمره ۷۰% در آزمون، گواهینامه اعطا می شود. در صورت کسب نمره لازم در آزمون هزینه صدور گواهینامه ۳۰ هزارتومان می باشد.
پیش فروش به این معناست که شما می توانید قبل از انتشار رسمی این دوره، با پرداخت هزینه کمتر در این دوره ثبتنام نموده و به محض انتشار این دوره، از تماشای محتوی آن لذت ببرید.
بله. پس از انتشار رسمی دوره، تخفیف پیشفروش برداشته می شود.
بله. پس از انتشار رسمی دوره، کل محتوی به صورت یکباره در سایت قرار می گیرد.
چنانچه شما علاقه مند به مدارات الکترونیک خصوصا تراشه ها و مدارات مجتمع هستید، قطعا از تماشای این دوره لذت خواهید برد. همچنین چنانچه مایل به شروع به کار پژوهش و ارائه مقالات علمی هستید، این دوره می تواند برای شما بسیار مفید باشد.
تنها لازم است با مبانی مدارات الکترونیک CMOS، خصوصا مدارات دارای ترانزیستور های ماسفت آشنا باشید.
مشابه برخی از موارد ارائه شده در این دوره در قالب مقالات موجود در ژورنال های علمی و به زبان انگلیسی و فارسی وجود دارد. اما به جرئت می توان گفت دوره ای که صفر تا صد مرتبط با مدارات بندگپ رفرنس را به زبان فارسی توضیح داده باشد، در اینترنت موجود نیست.
در روز چهارشنبه 15 خرداد محتوی این دوره به صورت یکباره منتشر می شود.
محتوی دوره شامل موارد زیر است:
1- فیلم های دوره
2- فایل های همراه
3- آزمون گواهینامه حضور در دوره
